會議集聚了當今儀表與測量技術研究領域的知名專家和學者，與會代表就國際最新的儀表和測量技術、信號處理技術、數據采集技術、傳感器技術等方面進行廣泛的交流和討論，集中體現了未來儀表與測量技術的發展方向。

　　會議現場，許多專家和學者來到中控展位，觀摩ECS-700DCS演示箱，并聽取工作人員的講解。他們中有不少人表示對褚健的演講印象深刻，對中控及其產品表現出濃厚的興趣。鑒于此，工作人員組織部分外賓在會議結束之后赴中控參觀，加深了解，促進合作。

　　本次會議是拓展中控國際化交流與合作的一次重要契機。借助這樣的學術平臺，一方面了解業內技術發展的最新動態，另一方面也促進相互間的科技交流與技術合作，進一步提升中控在測量與測試領域的學術地位和知名度。