航空航天和國防應用，從加固型通信到雷達再到航空電子設備，都需要具有精確電壓調節、高功率密度、高效率和全面系統診斷的智能電源，以實現高可靠性。

越來越多的航空航天和國防應用正在使用速度更快、性能更高的處理器和現場可編程門陣列 (FPGA)。如圖 1 所示，雷達不僅需要一個用于數字信號處理器 (DSP)、FPGA 和輸入/輸出 (I/O) 軌的 DC/DC 轉換器，還需要一個定序器來為上電和上電提供準確的排序-down 場景。

圖 1：雷達框圖

為什么需要對電源軌進行排序？

電源軌排序不當會給電源帶來多種風險，包括降低可靠性（可能導致設備故障）、對集成電路造成壓力、縮短應用壽命和立即出現故障，這與過大的電壓差和電流流入有關。圖 2 顯示了一個典型的電源排序圖。

圖 2：電源排序圖

如圖 3 所示，共有三種排序方案：順序、比例和同時：

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順序是指兩個或多個電壓軌以不同的壓擺率和不同的最終值按順序上電或斷電。

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比率是指兩個或多個電壓軌以不同的壓擺率和不同的最終值同時上電或斷電。

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同步是指兩個或多個電壓軌以相同的轉換速率同時上電或斷電，但最終值不同。

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圖 3：電壓軌排序的類型

解決所有這些排序方案的能力以及監控電源軌并靈活且易用地報告系統警告和故障的能力對于防止過流和過熱等失控問題至關重要。

UCD90320U是 TI 最新的 32 通道 PMBus定 序器，可通過其板載非易失性存儲器通過 Fusion Digital Power? Designer 圖形用戶界面針對各種定序場景進行編程和重新配置，如圖 4 所示。

圖 4：Fusion Digital Power Designer 中的電壓軌序列時序配置窗口

處理電離輻射暴露

在雷達和其他國防應用中，可能存在電離輻射暴露的情況。發生這種情況時，及時故障 (FIT) 率會增加；也就是說，失敗的概率會增加。半導體中電離輻射故障的一個典型例子是單粒子翻轉 (SEU)。SEU 是由電離輻射沖擊引起的，該沖擊會釋放存儲元件（例如配置存儲器單元、用戶存儲器和寄存器）中的電荷，從而導致位翻轉，如圖 5 所示。由 SEU 引起的變化被認為是“軟”的，因為電路/設備本身不會被輻射永久損壞。如果有新數據寫入該位，設備將正確存儲新數據。

圖 5：影響存儲單元的電離輻射 SEU

在地面應用中，需要關注的兩個輻射源是包裝雜質發射的 α 粒子和宇宙射線與地球大氣相互作用產生的高能中子。過去 20 年進行的研究導致了高純度封裝材料（超低 α [ULA]），它可以最大限度地減少由 α 粒子輻射引起的 SEU 效應。今天，不可避免的大氣中子仍然是 SEU 效應的主要原因。

UCD90320U 使用緊湊的 0.8 毫米間距球柵陣列封裝和 ULA 模塑料，以減少由電離 α 粒子引起的軟錯誤。該定序器/監視器還具有掃描用戶配置靜態隨機存取存儲器以檢測 SEU 的能力。ULA 和 SEU 檢測功能都為雷達和其他國防應用提供了更高的可靠性。根據實際客戶結果，ULA 封裝中 UCD90320U 的 FIT 率降至 10，而非 ULA 封裝的 FIT 率為 1,344。

實現有效的電壓調節

在成功對 FPGA 軌進行排序后，FPGA 內核軌在電壓調節、功率密度、熱性能和效率方面最為關鍵。一些最新的 FPGA 要求總容差為 ±2% 直流加交流（交流 = 負載瞬態），這使得穩壓器設計具有挑戰性。表 1 列出了典型的大電流 FPGA 內核和 I/O 導軌設計規范。

表 1：大電流 FPGA 內核和 I/O 軌電源規格

雷達和其他國防設備客戶通常更喜歡電源模塊，因為它易于使用和免維護。對于需要 120 A 輸出電流的 FPGA，等效的分立多相降壓穩壓器解決方案需要 66 個分立元件和數百小時的設計、布局、實驗室測試、原型設計、可靠性和最終測試。該設計還將接受電磁兼容性測試，以及用于國防應用的沖擊和振動測試。

對于最高性能的 FPGA，TI 的TPSM831D31 120-A 加 40-A 雙輸出 PMBus 降壓模塊可以幫助設計人員在高功率密度下滿足 ± 2% 的直流和交流容差規范，在 720 mm 2的印刷電路板面積。

TPSM831D31 采用我們專有的 DCAP+? 控制模式，可以減少輸出電容器的數量，包括在嚴重負載瞬態期間保持輸出電壓調節所需的多層陶瓷電容器的數量。TPMS831D31可以同時為 FPGA 內核和 I/O 軌供電，如圖 6 所示。

圖 6：TPSM831D31 應用電路

如果您正在使用大電流 FPGA 設計雷達或任何其他防御設備，并且您的設計重點是 FPGA DC/DC 轉換器的全面排序、監控、易用性和高功率密度，請考慮使用可重新配置的 PMBus 排序器，例如 UCD90320U和高性能模塊，如 TPSM831D31。