光譜學是測量紫外、可見、近紅外和紅外波段光強度的技術。光譜測量被廣泛應用于多種領域，如顏色測量、化學成份的濃度測量或輻射度學分析、膜厚測量、氣體成分分析等領域。

　　光纖光譜儀的出現源于20世紀90年代微電子領域中多象元光學探測器(例如CCD，光電二極管陣列)制造技術迅猛發展，通常采用光纖作為信號耦合器件，將被測光耦合到光譜儀中進行光譜分析。由于光纖的方便性，用戶可以非常靈活的搭建光譜采集系統，實現測量系統的模塊化和靈活性。

　　選擇光譜儀的時候需要考慮的三大要素：

　　1、波長范圍

　　波長范圍是選擇光譜儀的首要指標。它主要由光柵、探測器決定。波長范圍取決于光柵的起始波長和光柵線對數。波長越長則色散效應越大，光柵覆蓋的波長范圍就越小。光柵線數越多，色散效果越好，光柵覆蓋的波長范圍越小。

　　2、光學分辨率

　　光譜儀的光學分辨率是光譜儀所能分辨開的小波長差。它主要取決于光柵線數和入射狹縫寬度。光柵決定了不同波長在探測器上的色散程度。光柵線數越大色散程度越開，光學分辨率就越高。入射狹縫寬度決定狹縫在探測器陣列上所成像覆蓋的像元數。狹縫越寬，光學分辨率越小。

　　3、靈敏度

　　靈敏度主要入射狹縫、探測器有關。對于高靈敏度需要的應用可以選擇100μm或者200μm的狹縫來增加入射光信號；可以選信噪比較高的2048像素高靈敏度CMOS探測器，也可以選擇制冷型背照式CCD探測器，通過增加積分來提高信號強度。

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