直接零件標(biāo)記(DPM)和其他的二維碼在可讀性上差別很大，包括無可挑剔的激光標(biāo)記，或用磨損的觸針刻在鋼鐵上的圓點(diǎn)符號等，很明顯有些代碼可被成功讀取而其他則會失敗。失敗代碼可能會搞砸所有的事情。它們也許會抹去某個醫(yī)療設(shè)備的整個使用歷史，或者導(dǎo)致完美的飛機(jī)部件在無法讀取后被扔掉。

　　由于可讀性是一個如此重要的問題，國際標(biāo)準(zhǔn)化組織(ISO)已經(jīng)編寫了一些指導(dǎo)原則 - 稱為ISO / IEC 15415 - 指定了可讀代碼的外觀。事實(shí)證明，一個良好的二維碼可以用八個不同的參數(shù)來描述。讓我們依次了解一下每一個參數(shù)。

　　符號對比度 (SYMBOL CONTRAST)

　　符號對比度由于條形碼由明亮和黑暗的元素組成，所以不言而喻，兩者之間必定存在差異。對比度或符號的明暗元素之間的亮度差異是可讀性的關(guān)鍵組成部分。

　　調(diào)制 (MODULATION)

　　有高對比度條碼，也有低對比度條碼。在同一個條碼內(nèi)，可能既有高對比度又有低對比度的區(qū)域(通常是由于墨分布不均)。整個符號的對比度一致性稱為調(diào)制。許多讀碼器使用算法來校正低對比度，但是當(dāng)對比度在角落之間大幅度變化時，會使符號處理更加困難。

　　三個箭頭指向符號對比度降低的地方，導(dǎo)致調(diào)制等級較差。

　　軸向不均勻性 (AXIAL NON-UNIFORMITY)

　　大多數(shù)二維碼由單個方塊組成，對于普通讀碼器來說，重要的是它們是真正的方塊。如果這些單元由于太高或太寬看起來更像長方形，那么包含它們的符號在軸向不均勻性方面將會得到很低的評級。

　　這個二維碼顯示出了明顯的軸向不均勻性

　　網(wǎng)格不均勻性 (GRID NON-UNIFORMITY)

　　與軸向不均勻性一樣，網(wǎng)格不均勻性也是考察符號的分量單元的“矩形性”。不過這個參數(shù)不是沿著x軸或y軸進(jìn)行測量，而是著眼于符號的斜向拉伸程度。基本上，如果方塊開始看起來像風(fēng)箏形狀，那么符號的網(wǎng)格不均勻性就成了一個問題。

　　這個二維碼顯示出了明顯的網(wǎng)格不均勻性

　　固定模式破壞 (FIXED PATTERN DAMAGE)

　　大多數(shù)條形碼格式或符號體系包含某些必備模式，這些模式對于提醒讀碼器他們的存在以及指示行數(shù)和列數(shù)是必不可少的。例如，Data Matrix符號系統(tǒng)總是有一個“取景器模式” - 兩個相鄰的邊框由黑色單元組成 - 還有一個“時序模式” - 兩個邊框交替出現(xiàn)黑色和白色的單元格。任何對這些必備元素的障礙都將被視為固定模式的損壞等級。

　　三個箭頭所指示的位置顯示出固定圖案的破壞。

　　打印單元格增大(PRINT GROWTH)

　　給定代碼的總體大小和行數(shù)和列數(shù)，可以很容易地計(jì)算出預(yù)期的單元大小。然而有時候，暗單元格或者亮單元格會比預(yù)期的要大。這通常是由于打印時發(fā)生了問題。如果墨溢出到單元外，那么暗單元就會太大。如果沒有足夠的墨，亮單元則可能會變得過大。

　　反射率裕度(REFLECTANCE MARGIN)

　　反射率裕度參數(shù)是檢查整體亮和暗的全局閾值，并確定亮或暗符號將如何正確識別的可能性。這與對比度很相似，但它并不是衡量強(qiáng)度差異，而是衡量對比度問題(或反射在代碼表面的光線問題)會導(dǎo)致錯誤的可能性。

　　可解碼程度(DECODABILITY)

　　這是一個衡量條形碼是否符合三好學(xué)生標(biāo)準(zhǔn)的指標(biāo)。可解碼等級由符號相對于完美的理想二維符號可被解碼的程度決定。

　　綜上所述，很多指標(biāo)都進(jìn)入了二維碼的分級體系。當(dāng)然，有些東西永遠(yuǎn)不會是完美的，例如保鮮膜覆蓋代碼的反射率邊際等級。盡管如此，重要的是借此找到可能影響可讀性的一個或多個根本原因。