高溫試驗(yàn)箱軍用/民用可靠性環(huán)境試驗(yàn)國家標(biāo)準(zhǔn)總結(jié)：
　　GJB128A-97《半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》
　　GJB150.3-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法高溫試驗(yàn)》
　　MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)》
　　GJB4.2-83《艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)高溫試驗(yàn)》
　　GJB360A-96電子及電氣元件試驗(yàn)方法方法108高溫壽命試驗(yàn)
　　MIL-STD-202F《電子及電氣元件試驗(yàn)方法》
　　GJB367A-2001《軍用通信設(shè)備通用規(guī)范》4.7.28高溫試驗(yàn)
　　GJB548A-96《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》
　　MIL-STD-883D《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》
　　GB/T2423.2-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫》
　　SJ/T10325-92《汽車收放機(jī)環(huán)境試驗(yàn)要求和試驗(yàn)方法》4.1高溫負(fù)荷試驗(yàn)
　　SJ/T10325-92《汽車收放機(jī)環(huán)境試驗(yàn)要求和試驗(yàn)方法》4.2高溫貯存試驗(yàn)
　　GB/T13543-92《數(shù)字通信設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法》
　　RTCA/DO-160E機(jī)載設(shè)備環(huán)境條件和試驗(yàn)方法
　　注：高溫試驗(yàn)箱用于測(cè)試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫或恒定試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。

標(biāo)簽:                                    高溫試驗(yàn)箱