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      類型分類:
      科普知識
      數據分類:
      IC連接器

      電源噪聲測試中示波器的量化誤差

      發布日期:2022-10-09 點擊率:62


      示波器是一種常用的電子測量儀器,它可以把肉眼看不見的電信號轉換為可見的圖像,以便于人們研究電現象的變化構成。示波器的作用是非常廣泛的,還可以使用示波器經行噪聲測試,那么具體的測試方法是什么呢?

      在電源噪聲測試中,示波器的量化誤差會導致測量不準確。示波器存在量化誤差,實時示波器的ADC為8位,把模擬信號轉化為2的8次方(即256個)量化的級別,當顯示的波形只占屏幕很小一部分時,則增大了量化的間隔,減小了精度,準確的測量需要調節示波器的垂直刻度(必要時使用可變增益),盡量讓波形占滿屏幕,充分利用ADC的垂直動態范圍。

      通常測量電源噪聲,使用有源或者無源探頭,探測某芯片的電源引腳和地引腳,然后示波器設置為長余輝模式,最后用兩個水平游標來測量電源噪聲的峰峰值。這種方法有一個問題是,常規的無源探頭或有源探頭,其衰減因子為10,和示波器連接后,垂直刻度的最小檔位為20mV,在不使用DSP濾波算法時,探頭的本底噪聲峰峰值約為30mV。以DDR2的1.8V供電電壓為例,如果按5%來算,其允許的電源噪聲為90mV,探頭的噪聲已經接近待測試信號的1/3,所以,用10倍衰減的探頭是無法準確測試1.8V/1.5V等小電壓。在實際測試1.8V噪聲時,垂直刻度通常為5-10mV/div之間。

      另外,探頭的GND和信號兩個探測點的距離也非常重要,當兩點相距較遠,會有很多EMI噪聲輻射到探頭的信號回路中,示波器觀察的波形包括了其他信號分量,導致錯誤的測試結果。所以要盡量減小探頭的信號與地的探測點間距,減小環路面積。

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